X-Ray Diffractometer, XRD에 대상으로하여
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작성일 19-06-30 10:28
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analysis(분석) 에 이용하는 X-ray는 Characteristic spectrum으로 X-ray tube의 전압이 target 금속의 特性치인 어떤 임계값 이상이 되면 발생하는 X-ray를 사용한다. X-ray는 전기적으로 하전된 particle이 충분한 운동에너지를 가진 상태에서 급속히 감속될 때 발생하는데, 두 금속 전극사이에 수만 volt의 높은 전압을 걸어주면 양극은 전자를 급히 끌어 당기게 되므로 전자는 매우 빠른 속도로 target과 충돌하게 되고 그 충돌 시 X-ray는 발생하여 모든 방향으로 방출 된다 Target과 충돌하는 전자의 대부분의 운동에너지는 열로 방출되고 1% 이하만이 X-ray로 된다 Target에서 나오는 X-ray는 여러 가지 다른 파장을 가진 선들의 복합체이며 파장에 따른 intensity와 X-ray tube voltage에 따라 變化한다.
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X-Ray Diffractometer, XRD에 대상으로하여
1. X-Ray Diffractometer, XRD란?
- XRD란 X-Ray Diffraction의 약자로서 X-ray를 어떠한 샘플에 투사하면 X선이 산란 및 회절을 하게 되는데 이러한 회절 패턴을 analysis(분석) 하는 것을 말한다.
2. XRD의 원리
- X-ray diffraction은 1912년에 결정에 의해서 X-ray가 회절 한다는 현상이 발견됨으로써 X-ray의 물결의 움직임 성이 증명되고 물질의 미세구조를 조사하는 새 방법이 제안됨에 따라 XRD가 개발되었다.
*측정(測定) 원리
…(투비컨티뉴드 )
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설명
다. 이를 응용하면 물질의 미세 구조를 보다 정확하게 알 수 있다
- 회절 X선 스펙트럼을 이용하는 시constituent 석법. X선 회절사진의 흑화도를 측정(測定) 하든가 또는 X선 회절계를 사용해서 고체시료의 회절 X선을 취해서 물질의 동정(同定) 혼합분말의 혼합화의 결정, 고용체의 analysis(분석) 등을 하는 방법등이 있다 최근에는 자기(自記) X선 회 절계가 발달했기 때문에 단색 X선에 의한 분말결定義(정이) 산란강도 분포측정(測定) 이나 면간격 을 이미 알고 있는 결定義(정이) 면반사를 이용해 입사 X선의 파장스펙트럼 analysis(분석) 을 자동적 으로 할 수가 있도록 되었다.
